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激光共聚焦顯微鏡高度測量原理

更新時(shí)間:2023-10-18      點(diǎn)擊次數:912
激光共聚焦顯微鏡(LaserScanningConfocalMicroscope,簡(jiǎn)稱(chēng)LSCM)是一種高分辨率的顯微鏡技術(shù),可以實(shí)現對樣品表面的三維形貌進(jìn)行測量。其高度測量原理主要基于激光共聚焦原理和掃描探測技術(shù)。  
激光共聚焦原理是指通過(guò)將激光束聚焦到樣品表面上的一個(gè)點(diǎn),然后通過(guò)探測器接收反射回來(lái)的光信號。在聚焦點(diǎn)附近,只有來(lái)自該點(diǎn)的光信號能夠通過(guò)一個(gè)小孔進(jìn)入探測器,其他位置的光信號會(huì )被屏蔽掉。這樣可以消除樣品表面其他位置的散射光信號,提高圖像的清晰度和對比度。  
在高度測量中,激光束被聚焦到樣品表面上的一個(gè)點(diǎn),然后通過(guò)探測器接收反射回來(lái)的光信號。當樣品表面存在高度差時(shí),反射回來(lái)的光信號會(huì )發(fā)生相位差,這個(gè)相位差可以用來(lái)計算樣品表面的高度差。  
為了實(shí)現高度測量,LSCM通常采用掃描探測技術(shù)。通過(guò)控制激光束在樣品表面上進(jìn)行掃描,可以獲取到不同位置的光信號。通過(guò)對這些光信號進(jìn)行處理和分析,可以得到樣品表面的三維形貌信息。  
總結起來(lái),激光共聚焦顯微鏡的高度測量原理是通過(guò)激光共聚焦原理和掃描探測技術(shù),利用反射回來(lái)的光信號的相位差來(lái)計算樣品表面的高度差。這種原理可以實(shí)現對樣品表面的高分辨率三維形貌測量。
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